- Ausgewählter Filter :
1 Produkt
| Bild | Modell | Preis | Anzahl | Lager | Hersteller | Beschreibung | Package / Case | Series | Packaging | Number of Bits | Logic Type | Mounting Type | Operating Temperature | Part Status | Supplier Device Package | Factory Stock | @ qty | Minimum Quantity | Supply Voltage | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
Ein Angebot |
249
Verfügbar auf Lager
|
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | 64-LQFP | 74ABT | Tray | 18 | Scan Test Device With Transceivers And Registers | Surface Mount | -40°C ~ 85°C | Active | 64-LQFP (10x10) | 4480 | 0 | 1 | 4.5 V ~ 5.5 V |
1 / 1 Seite
