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| Bild | Modell | Preis | Anzahl | Lager | Hersteller | Beschreibung | Package / Case | Series | Packaging | Number of Bits | Logic Type | Mounting Type | Operating Temperature | Part Status | Supplier Device Package | Factory Stock | @ qty | Minimum Quantity | Supply Voltage | |
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Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | 64-LQFP | 74LVTH | Tray | 20 | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers | Surface Mount | -40°C ~ 85°C | Active | 64-LQFP (10x10) | 6400 | 0 | 1 | 2.7 V ~ 3.6 V |
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